iPhone 6 Plus出严重缺陷 或面临大规模召回

　　这个季度对苹果来说可谓是多事之秋，“弯曲门”等事件的频繁触发无不将人们的关注点引到了“设计缺陷”上，然而跟最新的用户反馈来比，这些都已经不算什么了。

　　此前很多iPhone 6 Plus的用户表示他们的手机在使用过程中遭遇了严重问题，经常会无故崩溃，导致操作中断无法进行，或者是进入无限重启循环中，有些人已经为此找苹果的售后更换了4部手机。

　　由于这种问题在128GB版iPhone 6 Plus上出现的几率最大，所以许多用户都猜测是由于安装了过多应用，或者是应用与iOS 8.1不兼容导致的，针对第一个说法，一部分用户表示在未运行任何应用的情况下该问题还是发生了，显然这个说法并不能解释该问题的出现原因；而第二种说法更难成立，因为并不可能所有应用均不兼容。

　　台湾和韩国媒体针对此事给出了最新的解释，他们称iPhone 6 Plus出现频繁崩溃的现象可能是使用的TLC NAND存储器控制IC的问题，业内人士指出，这很可能是iPhone内部NAND Flash控制的IC品质瑕疵所导致。

　　报道中强调，苹果为了节省成本，使用了TLC NAND存储器控制，虽然存容量更多，但是读取/写入的速度比较慢。 如果此消息为真，那么iPhone 6 Plus或许将面临大规模召回的局面。